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Nur auf Englisch verfügbar.

Einleitung

Dieses Whitepaper zeigt die Bedeutung einer ausreichend hohen Abtastrate für die Früherkennung von Lagerausfällen und anderen Schadensbildern auf, die häufig anhand einer Hüllkurvenanalyse festgestellt werden. 

Die Studie basiert auf Daten, die mit hohen Abtastraten erfasst und anschließend durch Downsampling auf niedrigere Abtastraten reduziert wurden, die typischer für die Abtastraten sind, die im Zusammenhang mit MEMS-Sensoren zum Einsatz kommen. 

Im Anschluss daran werden Analyseverfahren angewendet und eine Trendentwicklung ausgewählter Ergebnisse aufgezeigt, um das Prinzip zu veranschaulichen. 

Es wird nachgewiesen, dass die Hüllkurvenanalyse Abtastraten erfordert, die ausreichend hoch für die Erfassung der Signatur regelmäßiger Stöße sind, welche deutlich über der normalen Betriebsdrehzahl der Maschine liegen, vorzugsweise im Multi-kHz-Eigenfrequenzbereich der Komponente und des Gehäuses.

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Erstveröffentlichungen: 30.10.2023

Autor:

David Futter, Department Leader, Condition Monitoring Consultancy, Bachmann Monitoring GmbH